反射金相顯微鏡滿足您不同層次的不同要求
反射金相顯微鏡廣泛應(yīng)用于應(yīng)用于教學(xué)科研金相分析、半導(dǎo)體硅晶片檢測、地址礦物分析、精密工程測量等領(lǐng)域,也可應(yīng)用于電子、光纖、紡織、印刷及微顆粒、粉末、同時(shí)也可用于食品安全評估、醫(yī)學(xué)研究地質(zhì)研究等。
反射金相顯微鏡可完成包括色度調(diào)整,圖象變形,數(shù)學(xué)形態(tài)學(xué)處理,圖象增強(qiáng),圖象,匹配紋理分析,特征識別等一百多種專業(yè)圖象處理與分析功能; 彩色模型的處理與分析;分析數(shù)據(jù)的可視化處理使分析結(jié)果與圖象之間構(gòu)成直接映射關(guān)系,便于觀察分析。反射金相顯微鏡先進(jìn)的顆粒自動(dòng)識別、粘連顆粒自動(dòng)切分功能,保證了復(fù)雜圖象的準(zhǔn)確分析;自動(dòng)分析處理步驟編輯功能,能夠完成全自動(dòng)分析過程的設(shè)置,幾何參數(shù)測量 功能,細(xì)長體、塊狀體、顆粒體、線狀體等各種特征體的自動(dòng)定量分析功能,分析參數(shù)達(dá)一萬多項(xiàng)。
反射金相顯微鏡分析結(jié)果可存入數(shù)據(jù)庫,進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析,制作圖表,打印報(bào)告,并可以照片質(zhì)量輸出圖象,采用的無限遠(yuǎn)雙重色彩校正及反差增強(qiáng)光學(xué)系統(tǒng),系統(tǒng)進(jìn)行了充分的無應(yīng)力處理,為用戶的偏光觀察提 供銳利的圖像。反射金相顯微鏡采用5種上部部件和3種下部部件及兩個(gè)立柱組合方式,可根據(jù)您對材料檢測的要求和經(jīng)濟(jì)成本進(jìn)行任意靈活的組合,可實(shí)現(xiàn)對透明材料、不透明材料以及熒光材料的分析,同時(shí)具有強(qiáng)大 的升級空間,保證您未來的檢測要求。
反射金相顯微鏡6孔對中物鏡轉(zhuǎn)盤,為物鏡提供了更大的操作空間,省去了調(diào)整物鏡和轉(zhuǎn)盤的時(shí)間,大大提高了工作效率和圖像效果,的錐光觀察技術(shù),可采用多種方式進(jìn)行錐光觀察,滿足您不同層次的不同要求,高度可達(dá)到380毫米的,給您提供非凡的操作空間,貼近用戶的靈活性,設(shè)備的部件升級無需專業(yè)人員,用戶可自行操作完成。
反射金相顯微鏡能夠給用戶提供的成像質(zhì)量的同時(shí)也能夠?qū)崿F(xiàn)用戶經(jīng)濟(jì)利益的較大化,并且為用戶日后的研發(fā)水平的提高提供了足夠大的升級空間,這是基于用戶利益的設(shè)計(jì)理念,已經(jīng)成為業(yè)內(nèi)競爭力的顯微鏡產(chǎn)品。